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优势供应INGUN探针-德国测试工具
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德国INGUN质量通过精密的测试而得出的,根据这个测试,1971年一直在开发、制造和销售各种测试设备的领域。德国INGUN一个全球性经营公司检测设备制造和提供测试探针和测试夹具。
INGUN探针,测试针,用于测试PCBA的一种探针。表面镀金,内部有平均寿命3万~10万次的高性能弹簧。目前国外比较有名的生产厂家有:ECT,INGUN,QA,IDI、Semiprobe探针的材质:W,ReW,A
1.目前主要采用的材质为W,ReW,弹性一般,容易偏移,粘金屑,需要多次的清洗,磨损损针长,寿命一般。
2.A材质的免清针,这种材质弹性较好,测试中不容易偏移,并且不粘金屑,免清洗,因此寿命较长。
探针分类探针根据电子测试用途可分为:A、光电路板测试探针:未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针,国内大部分的探针产品均可替代进口产品;B、在线测试探针:
PCB线路板安装元器件后的检测探针;产品的核心技术还是掌握在国外公司手中,国内部分探针产品已研发成功,可替代进口探针产品;C、微电子测试探针:即晶圆测试或芯片IC检测探针,核心技术还是掌握在国外公司手中,国内生产厂商积极参与研发,但只有一小部分成功生产。
探针主要类型:悬臂探针和垂直探针。
悬臂探针:劈刀型(B1ade Type)和环氧树脂型(Epoxy Type)
垂直探针:垂直型(Vertical Type)
1.ICT探针(ICT series Probes)一般直径在2.54mm-1.27mm之间,行业内的标准称呼100mi1,75mi1,50mi1,还有更特别的直径只有0.19mm,主要用于在线电路测试和功能测试.
也称ICT测试和FCT测试.也是目前应用较多的一种探针.
2.界面探针(Interface Probes)非标准的探针,一般是为少数做大型测试机台的客户定做的,例如泰瑞达(Teradyne)和安捷伦(Agilent).用于测试机台与测试夹具的接触点和面.
3.微型探针(MicroSeries Probes)两个测试点中心间距一般为0.25mm至0.76mm.
4.开关探针(Switch Probes)开关探针单一支探针有两路电流.
5.高频探针(Coaxial Probes)用于测试高频信号,有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的.
6.旋转探针(Rotator Probes)弹力一般不高,因为其穿透性本来就很强,一般用于OSP处理过的PCBA测试.
7.高电流探针(High Current Probes)探针直径在
2.54mm-4.75mm之间.最大的测试电流可达39amps.
8.半导体探针(Semiconductor Probes)直径一般在0.50mm-1.27mm之间.带宽大于10GHz,50Q characteristic
9.电池接触探针(Battery and Connector Contacts)一般用于优化接触效果,稳定性好和寿命长.除以上类型外还有温度探针,Kelvin探针等,比较少用.
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